Factores asociados a la recesión de la papila interdental de incisivos centrales superiores en adultos del Hospital Central de la Fuerza Aérea del Perú

Abstract

Objetivo: Identificar los principales factores asociados a la recesión de la papila interdental de incisivos centrales superiores. Material y métodos: Se analizó una muestra no probabilística de 86 pacientes de la sección de Periodoncia e Implantes del Departamento de Estomatología del Hospital Central de la Fuerza Aérea del Perú. El tipo de estudio fue observacional, correlacional simple, transversal y prospectivo. Se evaluaron clínicamente factores como forma coronal dentaria y biotipo gingival; y radiográficamente distancias de la unión cemento esmalte proximal al punto de contacto interdentario (UCEp-PC), punta de la papila al punto de contacto interdentario (PP-PC), cresta ósea al punto de contacto interdentario (CO-PC), cresta ósea a la unión cemento esmalte proximal (CO-UCEp), ancho interdental (AI), ancho de la cresta ósea (AC) y ancho de la punta de la papila (APP). Resultados: En todos los pacientes de estudio, el nivel de recesión, CO-PC y APP fueron predictores individuales significativos (p<0,05) de la altura papilar (AP). En pacientes con recesión papilar, CO-PC, APP y PP-PC fueron predictores significativos (p<0,05) de AP. Además, CO-PC fue el único predictor significativo (p<0,001) de AP en pacientes sin recesión papilar. Conclusiones: Las distancias PP-PC, CO-PC y APP son los principales factores asociados a la recesión de la papila interdental de incisivos centrales superiores y en conjunto predicen la altura papilar.